Etiqueta de registo: 00209nx b2200085 45
001 162518
095 ## $aPTBN00129825
100 ## $a19950127apory0103 ba
102 ## $aUS
152 ## $aRPC
210 12 $aSymposium on Defects in Silicon,$eSan Francisco,$f1983
801 #0 $aPT$bBN
ver registos bibliográficos associados